北京伊微视科技有限公司

TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜

简介：新型的 BrightBeam" 镜筒配置了静电-电磁复合透镜，纵贯整个镜筒内部的加速器可以保证电子在整个镜筒内全程处于高能量，减少 Boersch效应。这种设计显著减小了像差，可以很好的提升低电压下的分辨率。此外，加... ...

Sinton WCT-120:硅片寿命测试工具

硅片测试仪器提供了对载流子复合寿命进行校准分析的现有技术。完全遵从SEMI标准 PV-13。WCT-120 是放置在桌面上的硅片寿命测量系统，适用于器件研究和工业过程控制，价格实惠。WCT-120MX适用于测试230 mm的大硅片。 ...

MultiMode-8高分辨扫描探针显微镜

MultiMode"是世界上的扫描探针显微镜，得到客户的高度认可，迄今为止数以万计的MultiMode"扫描探针显微镜已经在全球成功安装使用。其的超高分辨率完备的仪器性能，无与伦比的多功能性，以及得到充分验证的完美表现和... ...

Dimension FastScan原子力显微镜

为满足 AFM 使用者对提高 AFM 使用效率的需求，Bruker 开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利用 Dimension 快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质... ...

Nexview NX2 3D全自动光学轮廓仪

Nexview NX2?光学轮廓仪采用的是非接触式测量技术，具有亚纳米测量精度（所有放大倍数下），可以更快更好地测量各种样品表面，是一款具有非常高投资回报率的产品。满足各种应用需求，包括平面度，粗糙度和波纹度... ...

F50薄膜厚度均匀性测量仪

依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得最大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘... ...

Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各... ...

Zygo NewView 9000 3D 光学轮廓仪

Zygo NewView 9000 3D 光学轮廓仪提供了强大的非接触式光学表面分析的多功能性。它可以容易和快速地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯式的表面。所有的测量都是无损、快速、无需样品制备的。 系... ...

Zygo ZeGage ProHR桌面式光学轮廓测量仪

Zygo ZeGage Pro光学轮廓仪是用于3D形貌定量测试，和精密机械表面粗糙度检测的理想非接触式检测工具。它工业化的设计提供快速，精确的测量方案，并且外形紧凑、性价比高，能够放在生产车间工作，而不需要振动隔离和... ...

KLA探针式表面轮廓仪P-7

KLA是全球半导体在线检测设备市场的供应商，在半导体、数据存储、MEMS、太阳能、光电子以及其他领域中有着极高的市占率。P-7是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统，历经技术积累和不断迭代更新，集合众多技术优势。... ...

KLA探针式D系列表面轮廓仪

KLA是全球半导体在线检测设备市场的供应商，在半导体、数据存储、MEMS、 太阳能、光电子以及其他领域中有着极高的市占率。Alpha-Step" 探针式轮廓仪支持合阶高度和粗度的2D及3D(D-600)轮廓扫描，以及翘曲度和应力... ...

Profilm3D白光干涩轮廓仪

Filmetrics的 Profilm3D/Profilm3D-200让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以前所未有的价格实现次纳米级的表面形貌研究。 ...

Film sense薄膜厚度椭偏仪

Film Sense 多波长椭偏仪通过简单的 1 秒测量，可以以极高的精度和精度测定大多数透明薄膜的薄膜厚度和折射率并对许多样品进行光学常数 n&k 等薄膜性质的测量。多波长椭偏仪提供了强大的薄膜测量功能售价只是单一... ...

透明晶圆缺陷扫描仪Lumina AT2

简介： Lumina AT2可以在3分钟内完成300毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的... ...

透明晶圆缺陷扫描仪Lumina AT2-EFEM

Lumina AT2-EFEM可以在2分钟内完成300毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势... ...

透明晶圆缺陷扫描Lumina AT1

Lumina AT1可以在4分钟内完成150毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也... ...